【TECHNO-X】 XRF分析裝置 最新技術 多國專利取得

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【TECHNO-X】 XRF分析裝置 最新技術 多國專利取得

發布日期:

介紹利用波長分散技術的新型能量分散型螢光X線分析技術(取得美國專利)

 

TECHNO-X所開發的新型螢光X線分析儀 TW-10為利用波長分散技術的能量分散型螢光X線分析裝置,取得前所未有的最高性能。

此獨創性技術取得日本、德國、美國專利認證。

 

 

 

 

 

 

 

採用該技術之新型螢光X線分析儀(XRF TW-10)

 

TECHNO-X今後將會活用此技術,發展新型能量分散型螢光X線儀器。

身為能量分散型螢光X線研發領導者,我們將繼續提供最高性能的分析儀器,敬請關注。

 

各國專利認證狀況

ドイツ

102012112866.9

Röntgenfluoreszenzspektrometer und Röntgenfluoreszenzanalysator

2015年2月19日

日本

特許5907375

「蛍光X線分析装置及び蛍光X線分析方法」

2016年4月26日

米国

US 9,448,191 B2

”X-Ray Fluorescence Spectrometer and X-Ray Fluorescence Analyzer”

2016年9月20日

 

技術概要

 

 

 

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