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乾燥製程設備、 環境測試設備、腐蝕試驗設備、 各種泛用型儀器

貴金屬含量分析

株式会社 テクノエックス TECHNO-X FD-J

TECHNO-X FD-J
  • 針對貴金屬元素分析開發的分析裝置。
  • 操作及結果顯示都在前面板完成。
  • 小型的設計,容易擺放。
  • 照射面積極小(1mm),可分析微小面物品。
  • 測量時間只要10秒。
  • 一個按鍵即可完成測量動作,誰都可以輕易上手。
  • 搭載wifi功能,可以與其他裝置連接。

機型規格表

測定原理 能量分散型螢光X線分析法
X線光學系統 下方照射光學系統
測定對象 固體・粉體
定性元素範圍 Ti~U
定量方式 FP法 及 檢量線法
測定環境 大氣測定
安全機構 2重安全機構:機械鎖定+電器內鎖定
軟體 測定・表示・演算・解析軟體
消耗品 高分子膜(6μm)
塑膠試品盒
※(注) 規格如有更改恕不另行通知。

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